不銹鋼中不同材料的區分示例分析

發布日期：2022-09-19 瀏覽次數：968

不銹鋼中不同材料的區分示例分析

該設備由高壓發生器、分光頭、計數電路、使用液晶觸摸屏的CPU系統和樣品室組成。X 射線源是一種節能風冷緊湊型 X 射線管。分光頭由雙曲面環形LiF和毛細管組成，具有可在CPU控制下更換每個激發源的結構。光譜頭和樣品室由4μm厚的聚合物膜隔板隔開，頭內部保持數Pa的真空，樣品置于空氣中。結果，減少了由空氣引起的散射輻射，并且可以容易地進行測量。X射線探測器采用高分辨率硅漂移探測器（SDD），無需液氮，計數率高。探測器元件采用兩級珀耳帖元件冷卻，冷卻溫度控制在-20±0.5℃。計數電路使用緊湊型數字信號處理器 (DSP)。CPU部分采用液晶觸摸屏，無需安裝空間，操作簡單。為了用環形單色儀對初級 X 射線 Pd-Kα 射線進行單色化和聚焦，需要以良好的激發效率和良好的 P/B 比分析過渡金屬、Mo 和 Pb 等。

X射線管：風冷鈀靶
kV-mA：40-1（Pd-Kα單色光束）
測量時間：100秒
檢測器：SDD（元件冷卻：-20°C，Mn-Kα射線能量分辨率：160 eV以下）

結果與討論

在鋼種鑒別的情況下，由于樣品測量表面并不總是平坦的，因此通過取樣品的一次 X 射線與散射 X 射線的比率進行校正。首先分析鑄錠標準樣品的平面。Cr-Kα線、Ni-Kα線和Mo-Kα線用于測量光譜。圖1-1為各光譜線的校準曲線與散射X射線的比值校準曲線。兩條校準曲線獲得了幾乎相同的結果。圖1-2顯示了樣品圓柱面（側面，直徑約40mmφ）的測量結果，結果與平面幾乎相同。接下來，1-3 顯示了使用 Cr-Kα 和 Mo-Kα 射線研究距離特性的結果。X 射線分析值在距參考物 1、2 和 3 mm 距離處與散射 X 射線的強度比相比，Cr 的最大誤差為 1.41wt%，Mo 的最大誤差為 0.06wt%位置。Cr 和 Mo 的檢測下限分別為 0.0063wt% 和 0.0009wt%。