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更新日期：2025-05-02
簡要描述：
日本中央電機(jī)cew微缺陷檢測設(shè)備使用高分辨率相機(jī)和高精度XY載物臺的二維檢查設(shè)備。適用于檢查光學(xué)膜，片，觸摸面板等的表面劃痕，異物和缺陷。
| 類型 | 無損傷 |
|---|
日本中央電機(jī)cew微缺陷檢測設(shè)備
使用高分辨率相機(jī)和高精度XY載物臺的二維檢查設(shè)備。
適用于檢查光學(xué)膜，片，觸摸面板等的表面劃痕，異物和缺陷。
光學(xué)分辨率為“ 1.8μm”，可以進(jìn)行超高清檢查。
它也可以用于尺寸測量，并且可以檢查二維沖壓產(chǎn)品。
用于檢查觸摸屏和異物等缺陷！
| 外形尺寸 | 1000 x 1200 x 1080毫米 |
|---|---|
| 重量 | 400公斤 |
| 測量范圍 | 600 x 400毫米 |
| 被測物體的高度 | 30毫米 |
| 光學(xué)分辨率 | 1.8微米 |
| 控制分辨率 | 1.0微米 |
| 重復(fù)定位精度 | ±5微米 |
| 光學(xué)倍率 | 2次 |
| 視場 | 6.3毫米x 5.0毫米 |
| 監(jiān)視器 | TFT 23.6型寬 分辨率：1920 x 1080像素 |
| 相機(jī) | CCD單色1英寸 像素?cái)?shù)：900萬像素 |
| 鏡片 | 遠(yuǎn)心鏡頭 WD：65毫米 景深0.095毫米 |
| 照明 | 同軸落射照明 |
| 電源 | AC100V 50/60赫茲 |
| 開發(fā)語言 | LabVIEW |
日本中央電機(jī)cew微缺陷檢測設(shè)備
光學(xué)分解能1.8μｍ?スピード検査 タッチパネス周辺電極?基板表面など、微細(xì)欠陥の検査が可能
高解像度カメラと高精度X-Yステージを用いた二次元の検査裝置です。
光學(xué)フィルム、シートやタッチパネルなどの表面キズ、異物の検査や欠陥検査に適しています。
光學(xué)分解能「1.8μｍ」で、非常に高精細(xì)な検査が可能です。
寸法測定にも対応でき、二次元の打ち抜き加工品などの検査もできます。
